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| 品牌 | SETH/賽思 | 產地類別 | 國產 |
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| 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
應力篩選復合試驗箱改變了以往為進行溫度儲存、溫度循環、高低溫沖擊兩箱式、高低溫+常溫沖擊三箱式、應力篩選ESS試驗，至少需要購買四臺設備的狀況。集多種機型于一體的功能設計，一次性解決您的需求，滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺的利用率和工作效率。適用于對整機產品、元器件、零部件、材料等進行溫度儲存、慢速溫度循環3~5℃/min、應力篩選5~15℃/min、快速溫變15~30℃/min、冷熱沖擊試驗、檢驗產品在試驗過程中本身的適應能力與特性是否改變。每種產品都有其自身適用的環境應力篩選方法，產品在試驗過程中將受到設定的應力作用，產品的各零件、材料運用等方面的缺陷將被提前發現，以便于更好的改進產品的設計和應用。
應力篩選復合試驗箱試驗指標：
TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗 |
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | |
25℃/min→ | PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應 | |
24℃/min→ | 光纖連接頭 | |
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命 | |
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17℃/min→ | MOTO | |
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境) | |
11℃/min→ | 無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | |
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試 | |
5℃/min→
| 錫須溫度循環試驗 |
試驗分析：
型號：
型號 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
溫度范圍 | -80.00℃～+200.00℃ | |||
低溫沖擊范圍 | -10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ | |||
高溫沖擊范圍 | +60.00℃～+150.00℃ | |||
時間設定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
溫度波動度 | ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） | |||
溫度偏差 | ≤±2℃（-65℃～+150℃） | |||
溫度均勻度 | ＜2.00℃以內 | |||
溫變速率（斜率） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
溫變范圍 | -55℃～+85℃//+125℃ | |||
地址：廣東省東莞市常平鎮九江水石路街2號1號樓
郵箱：flora187@126.com
傳真：0769-82863487
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